在 USB-C 與 USB Power Delivery（USB-PD）裝置的 EMI/EMC 驗證過程中，工程師常會面臨不少挑戰。裝置需要在高功率傳輸、動態協議協商，以及高速資料傳輸等情境下進行測試，這些條件容易產生雜訊與熱效應，進而導致負載不穩或線材行為不可控，影響量測結果的準確性。
CR-DPWR EMI/EMC 測試儀即是針對上述問題所設計。不同於一般僅作為負載或協議模擬器的設備，它可直接放入 EMI 測試艙中運作，在維持低雜訊與低發熱的同時，提供更貼近實際使用情境的測試條件。
多數 USB-PD 測試設備因內部 switching power、控制介面或線材設計，容易產生輻射或傳導雜訊，因此不適合放入 EMI chamber。
CR-DPWR EMI/EMC 則針對艙內使用進行設計，可有效抑制自身 switching noise，讓設備在進行輻射與傳導測試時，能與 DUT 同時放置於艙內運作。
這樣的低自發射特性，可以避免量測結果被測試設備本身影響，特別是在 pre-scan 或 debug 階段，有助於工程師更準確地判斷問題來源。
CR-DPWR EMI/EMC 支援 Dual Role Power（DRP），可作為 Source 或 Sink 使用。這讓工程師可以在 role swap、power renegotiation 或 power transition 等情境下進行 EMI 驗證。
這些情況在 USB-C 裝置中相當常見，例如插頭方向改變或系統狀態切換時。若無 DRP 支援，這些瞬間狀態可能產生的 EMI 尖峰就無法被完整測試。
採用單一 USB Type-C 埠設計，讓工程師可以清楚區分並控制測試中的 power 與 data path，避免多埠架構下可能產生的耦合干擾。
這樣的設計有助於將量測到的 EMI 現象，直接對應到特定的 USB-PD 或資料傳輸行為，同時也更貼近實際充電器、裝置與周邊的使用架構，相較多埠模擬器更具代表性。
在 USB-PD 高功率驗證中，支援最高 100 W 的 VBUS 連續負載與供電能力相當關鍵。隨著電流增加，di/dt 變化與電源路徑中的磁場強度也會上升，進而提高 EMI 表現。
CR-DPWR EMI/EMC 可在長時間下維持穩定的 100 W 負載，讓工程師觀察在持續 worst-case power 條件下的 EMI 行為，而不只是短時間測試結果。這對於 thermal equilibrium 測試尤其重要，因為元件升溫後，EMI 特性往往會產生變化。
在 EMI 測試中，VCONN 常常被忽略，但實際上 e-marker cable 或主動式配件可能會從 VCONN 取用相當的功率。CR-DPWR EMI/EMC 支援最高 7.5 W 的 VCONN 負載，可在 VBUS 與 VCONN 同時運作的情境下進行驗證。這有助於找出來自 cable IC、Ra/Rd 偵測電路或 VCONN power path 的潛在雜訊來源，這些在僅測試 VBUS 時通常不容易被觸發。
高速資料通道是輻射 EMI 的主要來源之一，特別是在 30 MHz 到 1 GHz 頻段。CR-DPWR EMI/EMC 支援 USB 2.0 與 USB 3.2 Gen 1（5 Gbps）資料 loopback，讓測試過程中可持續進行資料傳輸。
這樣可以同時驗證 signal integrity 相關的 EMI、common-mode noise 以及 lane-to-lane coupling 等效應，不需要在「只跑 power」或「只跑 data」的模式間切換，測試情境也更接近實際使用狀況。
支援 USB Type-A 與 BC 1.2（source-only）偵測，可用於驗證向下相容（backward compatibility）情境。許多裝置仍需支援 legacy charging 模式，而不同的偵測電阻與電流配置，可能會影響 EMI 表現。將 BC 1.2 測試整合在同一平台中，可減少額外測試設備需求，同時提升不同產品型態的測試覆蓋率。
CR-DPWR EMI/EMC 採用光纖通訊架構，透過 optical link 連接測試艙與控制 PC。這樣可避免導電路徑形成非預期天線或雜訊耦合來源，進一步提升量測準確性。同時也能減少線材複雜度、簡化 chamber feedthrough 設計，並提高測試重現性。
根據產品量測數據，在 150 kHz 至 30 MHz（傳導）以及 30 MHz 至 1 GHz（輻射）頻段內，CR-DPWR EMI/EMC 均展現出極低的背景雜訊。
對工程師來說，這代表量測到的 peak 更能確定來自 DUT，而非測試設備本身造成的 artifact。
CR-DPWR EMI/EMC 可在進行 EMI/EMC 量測的同時，執行各種安全與壓力測試，包括：
這種整合測試方式，有助於觀察保護機制與 EMI 行為之間的交互影響，例如 fault recovery 或 current limiting 時可能出現的 EMI spike。
設備採用緊湊且具屏蔽效果的外殼設計，並搭配濾波 I/O，專為 EMI chamber 環境優化。精簡的線材配置可降低 setup 複雜度與變異性，而穩固的機構設計也支援長時間 unattended 測試。在尺寸與重量上亦易於搬移，可靈活整合至既有測試架構中。
CR-DPWR EMI/EMC 提供開放 API，支援 C#、Python，並可整合至 NI TestStand（Windows / Linux）。
透過 API，工程師可自動化執行：
適用於研發、回歸測試以及量產驗證流程。
結合低自發射、高功率能力、資料測試與自動化支援，CR-DPWR EMI/EMC 可應用於：
設備可在數分鐘內完成部署，大幅降低 setup 時間，讓工程團隊能更專注於問題分析與優化。
透過整合式驗證平台，一次解決 USB-PD EMI/EMC 測試中常見的問題，在真實操作條件下實現準確、可重現的量測結果，為高功率、高速 USB-C 設計提供更可靠的驗證依據。